报告题目：伟德国际1946源于英国-赛默飞金属材料微观表征探讨会
报告时间：2023年9月20日（星期三）下午 12:00—17:00
报告地点：图书馆六层报告厅
报告嘉宾：梁雪
研究方向：FIB技术开发和应用
嘉宾简介：
梁雪，上海大学分析测试中心高级实验师，硕士生导师，主要负责FIB技术开发和应用，具备十余年工作经验，精通TEM、APT、NanoCT、原位透射拉伸和微柱压缩等各类微纳尺度样品的高效制备，擅长FIB与TEM、APT等技术的联用。同时，多年从事核用关键结构材料的使役行为评价和高性能新型核材料的研发等工作。目前已在Science、Corrosion Science、Journal of Nuclear Materials、《金属学报》和《实验室研究与探索》等国内外重要期刊上累计发表学术论文40余篇，其中以第一作者或通信作者发表10篇，主持国家自然科学基金青年基金1项、省部级项目1项，参与完成国家自然科学基金面上项目4项和省部级项目2项。
报告嘉宾：杨光
研究方向：透射电镜技术开发与应用
嘉宾简介：
杨光，赛默飞世尔公司材料分析部(原FEI)亚太区市场推广部经理2001年获得同济大学材料科学与工程系学士学位，2003年在英国曼彻斯特理工大学材料学取得硕士学位，2007年英国谢菲尔德大学工程材料系博士学位。之后分别于2007-2009年和2009-2010年在美国伊利诺伊大学芝加哥分校物理系及德国埃尔兰根-纽伦堡大学材料系做博士后研究。在2011年1月至2016年4月间在西安交通大学电信学院国际电介质研究中心担任教授，入选陕西省“百人计划”，之后入职赛默飞世尔公司(原 FEI)负责亚太区透射电镜产品推广。具有十几年球差校正(扫描)透射电镜操作使用经验，在NatureCommNature Chem.,J.Am.Chem.Soc Phy RevB等SCI期刊发表论文70 余篇。
报告嘉宾：韩伟
研究方向：电子显微技术开发与应用
嘉宾简介：
韩伟，现任赛默飞世尔科技高级业务拓展经理，2010加入FEI，1998年获得北京工业大学材料学硕士学位，2004年获得德国克劳斯塔尔工业大学物理学博士学位。曾从事金属材料、高温超导材料、原位催化反应及传感器、电子显微镜技术方面开发及应用研究，发表过多篇论文。
报告嘉宾：孙秀荣
研究方向：扫描电镜技术开发与应用
嘉宾简介：
孙秀荣，赛默飞世尔科技业务拓展经理，毕业于北京科技大学材料学专业，研究课题专注于金属材料相关。拥有近10年的电镜相关使用经验（SEM、EDS、EBSD、CP等），擅长材料微观形貌、成分、结构表征分析，对各种类型样品的表征分析具有丰富的经验和心得。
